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详解LAP激光测量系统在PCB工业中的应用

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gaosmile 发布时间:2020-3-16 11:37

我们知道覆铜板PCB工业的基础材料,每个制造商都对覆铜板厚度有严格的要求,因为它的厚度直接影响PCB板的特性阻抗。目前,国内绝大部分覆铜板生产商都采用接触式测量方式,有些是在线测量,有些为离线抽检。随着对质量要求的提高,激光测量方式渐渐地被大家所认识,并被应用到生产线上。它的优点是传统的测量方式所无法达到的: 无需停顿,连续测量,提高生产率。

        非接触,被测物体表面无损伤;

        快速的数据处理能力为在线控制提供了可能;

        客观和可重复产生的测量结果不受操作者的影响;

        强大的数据处理为R&D提供了可靠的支持;

        通过对误差的限制和生产力的提高使得制造商获利。 LAP针对覆铜板测量的解决方案是三点式的,并且带有自动校正系统。如下图所示:

       

        图一 激光在线测量系统

        上述系统可根据客户的实际需求增加或减少测量点。这种差式测量方式的测量精度不受传送带速度和板材的垂直跳动影响,同时LAP激光传感器测量也不受板材表面颜色或纹理的影响。所以该系统能获得稳定而准确的测量数据。

       

        图二 在覆铜板生产线上LAP激光测量系统正在工作

        ◆ 系统特点

        1. 独创自动校正装置 如下图所示该装置在每一组传感器旁设置,在需要校正时通过软件上的执行按钮进行。装置上的气动臂就会自动延伸到测量区,气动臂顶端的标准模块就会旋转,传感器开始测量此模块,软件根据标准值自动设置补偿值,达到校正目的。这样消除了人工校正带来的人为误差,保证系统测量的精度。

       

        图三 LAP激光测量系统中的自动校正装置

        2. 功能强大的软件 软件提供CCL行业通行的9点测量值或6点测量值(可选择),可供研发使用的在线测量扫描曲线图、最大值和最小值条状图、横截面厚度分布图以及测量值的统计计算表等。质控人员也可根据以上信息分析产品的质量趋势,找出原因加以改进,从而进一步提高产品质量。

       

        图四 CCL板上9点测量值

       

        图五 3点测量模式下的扫描曲线

        ◆ 多种接口连接方式 传感器本身具有模拟和数字输出

         4-20 mA

         RS485 系统可通过下列接口组件连接PC机或PLC控制系统

         RS232 ASCII

         Ethernet UDP

         Profibus DP ◆ 系统技术规格

        传感器: 采用LAP公司的Polaris 或 Atlas

        环境条件: 0-40�C, 35-85%相对湿度,无凝露

        厚度测量范围: ≥0.1mm

        传感器线性: �0.002mm(Atlas); �0.007mm(Polaris)

        电源: 交流电230伏


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意法半导体微控制器和微处理器拥有广泛的产品线,包含低成本的8位单片机和基于ARM® Cortex®-M0、M0+、M3、M4、M33、M7及A7内核并具备丰富外设选择的32位微控制器及微处理器


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