STM32L051使用了PA1-PA3还有PB0、PB1  5个端口来做ADC输入，ADC采用DMA循坏方式不停的扫描。遇到的问题是：
1、PA3口本来输入1.99V电压信号，（VREF=3.319V）ADC得到的值是2046左右（推算电压值：1.657V左右）；
2、用示波器一测发现输入电压有被周期性被拉低，拉低的周期和采样次数大约1:2的关系；
3、非常奇怪，而且其他端口没有这种干扰（拉低）；

4、调试中不启动ADC，则干扰消失；
5、尝试在PA3端口对地接104电容后，示波器测试干扰消失，ADC值也恢复正常。

问题是如果是ADC引起应该干扰和采样周期同频率？另外AD其他输入端口也应该一样被干扰呀？

有没有人有这问题的答案呀？

自己顶一下。

解决吗

跟你电路有关吧，能把你的电路图发上来看看？

你的PA3有无跟其它功能复用？

你把PA3脚跟外部断开测试下看看？

或者你只做PA3的AD看看，不排除你代码有问题，产生这个怪相。

任风吹吹 发表于 2016-10-19 16:21
跟你电路有关吧，能把你的电路图发上来看看？

我使用官方的NUCLEO -L053R8也测试过，可以参考那个电路。

czm.gold 发表于 2016-10-19 13:35
解决吗

准确的说，没有找的根本原因。我怀疑是ADC取样时内部消耗引起，现在在输入端并电容可以得到改善。

xmshao 发表于 2016-10-19 21:39
你的PA3有无跟其它功能复用？

你把PA3脚跟外部断开测试下看看？

没有其他功能复用，PA3就是接了一个可调电阻。