【ST MCU实战经验】之扫描模式下 ADC 发生通道间串扰

Tom Chen

该问题由某客户提出，发生在 STM32F103VDT6 器件上。据其工程师讲述：在其产品中，需要使用STM32 的 ADC 对多路模拟信号进行同步采样。在具体的实现上，采用了 ADC 常规通道的扫描模式来完成这一功能。
 
问题详细描述以及ST官方解答见文档： 扫描模式下 ADC 发生通道间串扰.pdf (148.99 KB, 下载次数: 299)

2014-6-12 10:52 上传

点击文件名下载附件
 
ST MCU实战经验栏目，更多应用问题&官方解答，欢迎下载！