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如何减少STM32F103 ADC采集时间

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ldptest 提问时间:2020-11-27 10:34 /
环境:
STM32CubeMX 5.6.1(库为:STM32F11.8.0
IAR for ARM 8.40.2
STM32F103C8T6 BluePill

问题:
使用PA1~PA4进行4ADC采集,采用时间为7.5周期,测试出来每通道采样时间居然为10ms,当采用时间为239.5周期时,采样时间高达134ms。换了另一块板也一样。
时间间隔.png

设置:
时钟设置
时钟.png
ADC设置
设置.png

原代码:
int main(void)
{
HAL_Init();
SystemClock_Config();
MX_GPIO_Init();
MX_ADC1_Init();
MX_RTC_Init();
uint16_t ADC_Value[4];
TestPin_Toggle;                                                  //翻转Pin脚电平,测试时间用
ADC1_Conversion(ADC_Value);        //获取ADC
while (1)
  {  }
}

void ADC1_Conversion(uint16_t *p)
{
uint8_t j;
for(j=0;j<4;j++)
  {
   HAL_ADC_Start(&hadc1);
   HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1,0xFFFF);    //等待转换完成
   *p++ = HAL_ADC_GetValue(&hadc1);
   TestPin_Toggle;                                                     //翻转Pin脚电平,测试时间用
  }
HAL_ADC_Stop(&hadc1);
}

其中 HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1,0xFFFF); 就耗费了10ms

/* ADC1 init function */
void MX_ADC1_Init(void)
{
ADC_ChannelConfTypeDef sConfig = {0};

  /**Common config
  */
hadc1.Instance = ADC1;
hadc1.Init.ScanConvMode = ADC_SCAN_ENABLE;
hadc1.Init.ContinuousConvMode = DISABLE;
hadc1.Init.DiscontinuousConvMode = ENABLE;
hadc1.Init.NbrOfDiscConversion = 1;
hadc1.Init.ExternalTrigConv = ADC_SOFTWARE_START;
hadc1.Init.DataAlign = ADC_DATAALIGN_RIGHT;
hadc1.Init.NbrOfConversion = 4;
  if(HAL_ADC_Init(&hadc1) != HAL_OK)
  {
   Error_Handler();
  }
  /**Configure Regular Channel
  */
sConfig.Channel = ADC_CHANNEL_1;
sConfig.Rank = ADC_REGULAR_RANK_1;
sConfig.SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_239CYCLES_5;
  if(HAL_ADC_ConfigChannel(&hadc1, &sConfig) != HAL_OK)
  {
   Error_Handler();
  }
  /**Configure Regular Channel
  */
sConfig.Channel = ADC_CHANNEL_2;
sConfig.Rank = ADC_REGULAR_RANK_2;
  if(HAL_ADC_ConfigChannel(&hadc1, &sConfig) != HAL_OK)
  {
   Error_Handler();
  }
  /**Configure Regular Channel
  */
sConfig.Channel = ADC_CHANNEL_3;
sConfig.Rank = ADC_REGULAR_RANK_3;
  if(HAL_ADC_ConfigChannel(&hadc1, &sConfig) != HAL_OK)
  {
   Error_Handler();
  }
  /**Configure Regular Channel
  */
sConfig.Channel = ADC_CHANNEL_4;
sConfig.Rank = ADC_REGULAR_RANK_4;
  if(HAL_ADC_ConfigChannel(&hadc1, &sConfig) != HAL_OK)
  {
   Error_Handler();
  }
}

收藏 评论3 发布时间:2020-11-27 10:34

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3个回答
小歆-2051663 回答时间:2020-11-27 14:20:12
可以尝试使用DMA
ldptest 回答时间:2020-11-29 14:53:59
尝试使用DMA,时间是少了些,但远没达到要求。
启动DMA用了94.4us
HAL_ADC_Start_DMA(&hadc1,(uint32_t*)(ADCSample),2);
转换完成,再用了1.09ms

而我希望每隔20us对4个通道进行一次ADC,并记录。
grayloach 回答时间:2020-11-29 16:43:47
这么长时间,是不是测试有问题哦。试试寄存器操作呗,用ADC的独立时钟,最快一个微秒不到就可以采集一个AD。
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