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› 【ST MCU实战经验】之扫描模式下 ADC 发生通道间串扰
Tom Chen
发表于 2014-6-12 10:54:19
【ST MCU实战经验】之扫描模式下 ADC 发生通道间串扰
该问题由某客户提出,发生在 STM32F103VDT6 器件上。据其工程师讲述:在其产品中,需要使用STM32 的 ADC 对多路模拟信号进行同步采样。在具体的实现上,采用了 ADC 常规通道的扫描模式来完成这一功能。
问题详细描述以及ST官方解答见文档:
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