brother万 发表于 2013-12-16 17:27:29

STM32F10xxx JTAG TAP问题求助！

 为了访问Cortex ™ -M3 TAP 对芯片进行调试，必须：
1. First, it is necessary to shift the BYPASS instruction of the boundary scan TAP.
2. Then, for each IR shift, the scan chain contains 9 bits (=5+4) and the unused TAP instruction must be shifted in  using the BYPASS instruction.
3.  For each data shift, the unused TAP, which is in BYPASS mode, adds 1 extra data bit in the data scan chain.
 
Note: Important : Once Serial-Wire is selected using the dedicated ARM JTAG sequence, the boundary scan TAP is automatically disabled (JTMS forced high)。
 

以上该如何理解？？？
 
现在IDCODE可以读到，但是读写有问题。
①for each IR shift, the scan chain contains 9 bits (=5+4) and the unused TAP instruction must be shifted in  using the BYPASS instruction.
该如何实现？
 
②For each data shift, the unused TAP, which is in BYPASS mode, adds 1 extra data bit in the data scan chain.
adds 1 extra data bit是放在最后移入吗？
该如何实现正确读写？
 
请教大神指导指导！
是否有Demo可供参考？
 
 
 

brother万 发表于 2013-12-17 11:03:13

回复:STM32F10xxx JTAG TAP问题求助！

 请问有ST的 FAE / AE 吗？
希望得到大神的指点！

勒布朗 发表于 2013-12-24 20:50:44

RE:STM32F10xxx JTAG TAP问题求助！

TAP是啥意思哦

Hiker 发表于 2013-12-24 23:54:56

RE:STM32F10xxx JTAG TAP问题求助！

这个问题比较深入呢，帮你顶下吧~

cjq_enjoy-15073 发表于 2013-12-25 07:59:21

RE:STM32F10xxx JTAG TAP问题求助！

TAP是啥意思哦:o

看起来很黑 发表于 2013-12-26 09:02:58

RE:STM32F10xxx JTAG TAP问题求助！

Boundary scan是一种测试方法

温柔的武士刀 发表于 2013-12-29 20:10:41

RE:STM32F10xxx JTAG TAP问题求助！

STM32F10xxx JTAG TAP 连接
STM32F10xxx微控制器内部串联了两个JTAG TAP。
TMC TAP专门用来进行测试（IR寄存器为5比特位宽）和Cortex-M3 TAP（IR寄存器为有4比特位宽）。
为了访问Cortex-M3 TAP对芯片进行调试，必须：
1.首先，必须将BYPASS指令移位输入TMC TAP。
2.其次，在移位输入IR时，每个扫描链包含9个比特位（=5+4），对于不用的TAP，必须输入BYPASS
指令
3.移位输入数据时，不用的TAP处于BYPASS模式下，因此数据扫描链需要额外添加一位比特位。

有缘于你 发表于 2013-12-30 18:07:12

RE:STM32F10xxx JTAG TAP问题求助！

没用过TAP, 支持一下

jinyi7016 发表于 2014-1-1 00:10:12

RE:STM32F10xxx JTAG TAP问题求助！

7楼已经翻译出来了啊！！！！！！

dzc2001 发表于 2014-1-2 23:08:15

回复:STM32F10xxx JTAG TAP问题求助！

 这个TAP好像是用来做调试工具的吧
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