前段时间买了块阿波罗的开发板STM32F429，在测试底层驱动，前天发现一个问题，目前还没有找到解决办法；
1、使用的是开发板的U盘（host）实验的例子，增加了在U盘加载后，不停的读、写、比较文件的准确性，我是使用芯片
自带的LCD控制器，使用RGB显示屏。

2、发现在测试过程中，会有USB读写错误，返回USBH_MSC_PHASE_ERROR,这个是USB的一个硬件错误，寄存器描述如下：
    Bit 7 TXERR: Transaction error
    Indicates one of the following errors occurred on the USB.
    CRC check failure
    Timeout
    Bit stuff error
    False EOP。
但是我只要将LTDC中的LTDCEN位去掉，即关闭LTDC控制使能，无论再怎么测试一个晚上，也不会发生读写错误的问题。
而且我关闭是仅仅是使能，LTDC的背光没有关闭，所以不是电源问题引起的USB读写故障

3、我在使用33MHZ的LTDC刷新频率的时候，很快就会出现错误，我降低刷新频率至12.75MHZ，依然会出现错误，但是这个正常运行的时间明显比33MHZ的要长，按理跟硬件走线应该不太会有多大关系，频率都还是比较低的，USB使用的也是FS模式，而且两边走线应该都是相互分离的

4、这里申请的内存都是使用了内部sram的20K空间，来进行数据读写比较，当然外部也试过，问题一样，不知道是不是芯片内部总线的问题。

5、代码是正点原子开发板的测试代码，不管是寄存器版本和HAL版本都是一样的问题

6、不知道有没有其他人遇到类似问题，或者已经解决了这个问题的，大家相互讨论。


上传附件，以供大家一起测试。测试文件只需在U盘下面放置大于20K的，名称为HP.bin的文件

不知是否采用了中断方式，以前在实验其他类型的MCU时出现过。在读写时，关中断，完成后开中断。如果没有采用中断方式，没有这种板子没有做过类似的实验，不知道。谢谢

坐等大神

没有做过类似项目。

会不会是中断优先级导致的呢？

还有，不断地读写U盘，有可能会导致U盘损坏的。