STM32在IAR环境下怎样实现RAM里调试程序？

ning-191742 · 发表于 2010-12-8 10:17:20

各位高手，本人正在学习STM32，注意到此芯片的寿命为1000个循环，因此想用RAM调诗程序，我注意到在MDK里可以实现这个功能，但是怎要在IAR环境做到这一点呢？因为我个人对IAR熟悉一点。

安 · 发表于 2010-12-8 10:22:36

1000个循环？什么意思？FLASH的次数最少也在10W，你是不是看错了。他是指你擦写的次数，程序使用的次数。

ning-191742 · 发表于 2010-12-8 10:31:37

当然指的就是擦写次数，不过这不重要，重要是怎样实现在RAM里调试。

安 · 发表于 2010-12-8 11:25:26

RAM里面运行，断电以后，程序就没有了。

ning-191742 · 发表于 2010-12-10 09:04:43

终于找到问题了，ST公司的库害你没商量。
在Link-->Config配置好stm32f10x_ram.icf,却没想到这个从ST标准库COPY出来的文件有问题，其中：
define symbol __ICFEDIT_region_RAM_start__ = 0x20010000;
这样用户的RAM起始地址被设在64K以上，而我用的芯片是STM32F103C8，总共才20K RAM空音，难怪无法运行。由于我目前的测试程序很小，所以将其修改为0x20000200，一切OK。
我看到即使是High-Density Performance Line,其RAM也大都是在64K，因此ST库的此文件大有问题。或许是ST故意这样做的，让你知道必需小心使用RAM调试。

ToddYam · 发表于 2017-8-8 16:06:03

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