AD7714+STM32之间加光耦(光电隔离)是否能够提高数据稳定?
如题,AD+STM32之间加光耦(光电隔离)是否能够提高数据稳定?现在做了一块AD7714+STM32F429的采集系统,发现24位的AD7714只达到了13、14位的稳定,查了一下有关资料,说是加入光耦(光电隔离)有助于提高精度?
目前已经加入合适的去耦电容,有了一定的效果,但是还是不够理想。
排除了PCB制板问题不谈(预算有限,4层板已经是极限了),包括加入光耦(光电隔离)在类,还有哪些技术方法可以提高精度?
要达到24位是很难除上述方法以外再就是提高基准源的精度电容电感滤波电路板布线注意走线防止干扰 加线性光耦没啥用,
优化电路,电源,基准源
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