STM32L083读取内部温度，AD不校准可以，校准后为负，求助！
STM32L083读取内部温度，AD不校准可以读出现在温度18.3度，校准后温度为负了，-13.42.有没有朋友遇到过这个问题，求助！AD校准后，测试到的VREF值非常准确3.298 V，其他输入电压也很准，就是温度不正确了。
校准程序如下：
if (HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc, ADC_SINGLE_ENDED) !=HAL_OK)
{
printf("\r\nAD Calibration fail\r\n");
}
Temperature configuration code example
/* (1) Select HSI16 by writing 00 in CKMODE (reset value) */
/* (2) Select continuous mode */
/* (3) Select CHSEL18 for temperature sensor */
/* (4) Select a sampling mode of 111 i.e. 239.5 ADC clk to be greater
than 2.2us */
/* (5) Wake-up the Temperature sensor (only for Temp sensor and
VRefInt) */
//ADC1->CFGR2 &= ~ADC_CFGR2_CKMODE; /* (1) */
ADC1->CFGR1 |=ADC_CFGR1_CONT; /* (2) */
ADC1->CHSELR =ADC_CHSELR_CHSEL18; /* (3) */
ADC1->SMPR |=ADC_SMPR_SMP; /* (4) */
ADC->CCR |=ADC_CCR_TSEN; /* (5) */
#define TEMP130_CAL_ADDR ((uint16_t*) ((uint32_t) 0x1FF8007E))
#define TEMP30_CAL_ADDR ((uint16_t*) ((uint32_t) 0x1FF8007A))
#define VDD_CALIB ((uint16_t) (300))
#define VDD_APPLI ((uint16_t) (330))
int32_t ComputeTemperature(uint32_t measure)
{
int32_t temperature;
temperature = ((measure *VDD_APPLI /VDD_CALIB)- (int32_t) *TEMP30_CAL_ADDR );
temperature =temperature * (int32_t)(130 - 30);
temperature =temperature / (int32_t)(*TEMP130_CAL_ADDR-*TEMP30_CAL_ADDR);
temperature =temperature + 30;
return(temperature);
}
不知你校验步骤是否正确，好像先开启AD转换器、重置校准寄存器(软件写1)并一直等其硬件清零，再才是校验ADC，同样要等到其硬件清零此位才算校验完成。在此之前设置RCC有一项专门设置AD的分频系数，还有要用右对齐，禁止触发检测，独立模式非扫描，不要开启连续转换;
读温度时正负号是依据getadcvalue值大于还是小于零决定，关键是值的计算准确 Paderboy 发表于 2019-11-14 21:39
Temperature configuration code example
/* (1) Select HSI16 by writing 00 in CKMODE (reset value) */ ...
非常感谢!在static void MX_ADC_Init(void)初始化函数最后增加如下两行就可以了：
ADC1->SMPR |=ADC_SMPR_SMP;
ADC->CCR |=ADC_CCR_TSEN; 非常感谢，在AD的初始化函数里面增加：
ADC1->SMPR |=ADC_SMPR_SMP;
ADC->CCR |=ADC_CCR_TSEN;
就可以了，我试了增加第一个ADC1->SMPR |=ADC_SMPR_SMP;其实就可以了。意思是我的温度采样速度太快了吗？
页:
[1]