stm32f407的AD采集 在不同时间点采集的结果不一样
使用STM32F407自带的芯片对外部10KHZ的信号进行采集,采样时间程序中写的是112个周期,在实际测试过程中发现,比如我上午测试的值,与下午测试的值有明显的差别,测试信号比较稳定,大大超出了信号波动的范围。甚至在同一个时间点进行测试,随着时间的推移,采样的值会逐渐增大?请问这是什么原因造成的?这样,你要区分,究竟是STM32 ADC的产生波动,还是采集对象引起的波动;
方法是,上下无均采集恒压源,看得值变化否,这样能否区分,明白? 环境变化【如温度等】会影响ADC值啊 mikecai 发表于 2019-11-13 17:28
环境变化【如温度等】会影响ADC值啊
可是变化幅度过大,有200mv波动 Vref+ 和Vref- 没有变化吧? 方法是,上下午均采集恒压源,看得值变化否,这样能否区分,明白? dataozi 发表于 2019-11-14 09:12
Vref+ 和Vref- 没有变化吧?
没有变化 mikecai 发表于 2019-11-14 09:23
方法是,上下午均采集恒压源,看得值变化否,这样能否区分,明白?
采集过恒压源,没有变化 那就是说, CPU 本身 ADC 工作环境没变化,是 采集对象的工作环境引起的 电压值变化,那您晓得该查啥了? mikecai 发表于 2019-11-14 13:41
那就是说, CPU 本身 ADC 工作环境没变化,是 采集对象的工作环境引起的 电压值变化,那您晓得该查啥了? ...
我测的信号是10KHZ的,并且一直在变化,有没有可能是因为信号不断地变化引起测量不准确
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