ST芯片自检(满足CLASS B要求)
目前使用ST芯片(STM8L151系列)的所做的产品在认证过程中提出需要MCU芯片自检,有没有CLASSB 自检相关的库函数或者例程提供?有知道的请尽快告知,十分感谢!自检应该自己编程,比如写FLASH再读出,判断有否错,还有对IO口状态的读写等等。 wenyangzeng 发表于 2018-3-26 17:33
自检应该自己编程,比如写FLASH再读出,判断有否错,还有对IO口状态的读写等等。 ...
这种方法已经嵌入程序中,认证方认为这种方法不符合CLASS B设计要求 查了下,比如,已集成支持ClassB测试的自测库,这种文章。。。 ClassB的标准是怎样的? feixiang20 发表于 2018-3-26 20:36
查了下,比如,已集成支持ClassB测试的自测库,这种文章。。。
最近又找了一下,找到官方集成的测试库了 黑夜之狼 发表于 2018-3-27 08:44
ClassB的标准是怎样的?
符合IEC60370标准,对MCU的寄存器、时钟、终端、串口、AD做自检。 a1200220417 发表于 2018-3-28 08:37
符合IEC60370标准,对MCU的寄存器、时钟、终端、串口、AD做自检。
这个还真没做过,平时做UL的 黑夜之狼 发表于 2018-3-28 08:56
这个还真没做过,平时做UL的
UL认证也有,其他认证的也有,各种各样的要求
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