关于STM32F3 ADC在差分模式下的采样率计算问题
差分模式需要双通道，比如ADC1_CH1和ADC1_CH2，对双通道都进行AD转换，然后进行差分，接着输出结果。在该模式下，AD转换的过程是怎样的？采样率怎么计算？ 本帖最后由 wenyangzeng 于 2018-1-18 19:39 编辑
差分ADC只是输入为差分双端，转换速度应该按照1个通道ADC来计算。
当你选择IN1通道为差分模式时，IN2自动归到IN1的差分通道了。
ADC大致分为三部分：通道选择与通道切换、ADC核、ADC与主控的数据与控制交互接口。如下图所示，长方形、圆形、正方形框。
（下图是STM32F3的用户指导手册中截取）
红色框出来的奇通道只有一个开关，选择是否与VINP相连；蓝色框出来的偶通道有两只开关，不仅可选择与VINP相连，还或选择与VINN相连。
当用单端方式采样的时：VINN接参考电源负端VREF-（这个VREF-有可能是模拟地，也有可能不是），ADC1_CH1、ADC1_CH2、ADC1_CH3、……等，要采哪个通道，就把哪个通道的模拟开关切到VINP上。这样采出来的电压就是相对于VREF-的单端信号。
当用差分方式采样的时：ADC1_CH1、ADC1_CH2分为一组差分通道，ADC1_CH3、ADC1_CH4分为一组差分通道，依此类推。当要采样第一组差分通道时，ADC1_CH1的模拟开关打开，接入到VINP端，ADC1_CH2的靠上边的模拟开关打开，相当于接入到VINN端，两个通道的模拟开关是同时切换的。这样采出来的电压就是ADC1_CH1减去ADC1_CH2的差值，即差分电压。
学习一下SDADC采样率的计算
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