【ST MCU实战经验】扫描模式下ADC发生通道间串扰
问题：该问题由某客户提出，发生在 STM32F103VDT6 器件上。据其工程师讲述：在其产品中，需要使用STM32 的 ADC 对多路模拟信号进行同步采样。在具体的实现上，采用了 ADC 常规通道的扫描模式来完成这一功能。然而，在调试中过程中发现一个奇怪的现象：当将各路模拟信号的电平设置成相同时，ADC 对各路模拟信号的转换结果相同，用 A 来表示。改变其中一路模拟信号的电平，并保持其各路模拟信号的电平不变，则 ADC 对该路信号的转换结果变为 B。然而，此时与其在扫描次序上相邻的下一路模拟信号的转换结果也发生了变化，记作 C。经多次实验发现，B 和 C 在数值上相对于 A 有相同的变化方向。于是，怀疑 ADC 的相邻通道间存在着某种串扰。
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RE:【ST MCU实战经验】扫描模式下ADC发生通道间串扰
我现在做STM32的ADC多路采集，有时候发现ADC转换值不是很准，比如3.3V变成了2.9V ，不存在电压不稳的情况。
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