stm-362021 发表于 2012-7-5 10:28:52

过采样技术是一种以牺牲采样速度来提高ADC分辨率的技术（转）

过采样技术是一种以牺牲采样速度来提高ADC分辨率的技术。如果STM32的12位AD，每秒采集10个数据，即采样率为：10/秒。根据过采样技术，每提高1位ADC分辨率，需要增加4倍的采样率。从12位AD提高到14位AD，一共提高了2位，所以需要把采样率提高2 * 2 * 2 * 2 = 16倍。原来在100mS之内只采集一个数据，现在需要在100mS之内采集16个数据了。然后，我们把这16个数据累加，再把累加值右移2位，这样就得到STM32过采样之后的14位ADC。
    需要注意的是，过采样技术会限制输入信号的频率。根据采样定律，采样率最少是输入信号的2倍才能将信号还原。当需要提高n位的ADC分辨率时，采样率又得提高4*n倍。STM32的12位ADC的最高采样率为1MHz，如果要达到14位的ADC分辨率，那么输入信号的频率就不能超过：1M/2/15 = 31.25KHz。
    最后提醒：分辨率的提升到14位并不是精度也能提升14位。我自己试过提升到16位的分辨率，但是精度大概只有13、14位的样子

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leesoft 发表于 2018-4-27 22:10:32

下载学习一下

lsl2014 发表于 2018-4-28 09:29:35

感谢分享

lxl8511 发表于 2019-1-5 12:10:14

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lxl8511 发表于 2019-1-5 12:10:44

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lxl8511 发表于 2019-1-5 12:11:22

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chenccsir 发表于 2019-6-19 19:27:17

学习一下

dataozi 发表于 2019-6-20 09:40:11

正好要学习 感谢分享 学习一下

tianjilieren1 发表于 2019-11-4 11:01:43

感谢分享，正要学习一下

enwa688c49 发表于 2020-4-24 15:37:44


感谢分享,:)学习一下
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